ZAKŁAD PROJEKTOWANIA MATERIAŁÓW
język angielskiHome
aktualności badania przemysł edukacja szukaj kontakt mapa serwisu 

:: Badania ::

:: Projekty Badawcze
:: Grupy Badawcze
:: Współpraca
:: Urządzenia
:: Nasze Osiągnięcia
- Nasze Publikacje
- Zakończone Projekty
- Oprogramowanie
:: Techniki Badawcze
:: Linki

:: Aktualności ::

E-MRS 2018 Fall Meeting...  »

:: Konferencje
:: Publikacje

:: Logowanie ::

Login:

Password:

Urządzenia

Szukaj    

  sortuj: :

Rezultat wyszukiwania: znaleziono 34 urządzenia na 4 stronach (10 urządzeń na stronie).

 1  2  3  4 

Mikroskop SEM/STEM HITACHI S 5500

Urządzenie podstawowe

Mikroskop HITACHI S 5500 jest urządzeniem przeznaczonym do badania morfologii powierzchni ciał stałych w mikro- i nanoskali. Umożliwia on uzyskiwanie obrazów elektronowych powierzchni próbek o rozdzielczości 0,4 nm przy napięciu 30 kV i poniżej 2 nm przy napięciu 1 kV. Stosowanie niskiego napięcia... więcej »

Elektronowy mikroskop skaningowy HITACHI S-3500N

Urządzenie podstawowe

... więcej »

Skaningowy Mikroskop Jonowy (FIB-Focused Ion Beam)

Urządzenie podstawowe

Skaningowy Mikroskop Jonowy (FIB-Focused Ion Beam) umożliwia przygotowanie i wstępną obserwację preparatów przeznaczonych do prowadzenia badań z wykorzystaniem TEM (Transmisyjny Mikroskop Elektronowy) i SEM (Skaningowy Mikroskop Elektronowy). W urządzeniu tym wykorzystuje się do wycinania próbek... więcej »

Dyfraktometr rentgenowski D8 DISCOVER Serii 2 firmy Bruker AXS

Urządzenie podstawowe

Dyfraktometr rentgenowski D8 DISCOVER Serii 2 firmy Bruker AXS jest nowoczesnym urządzeniem, łatwym w eksploatacji, o wysokiej dokładności i posiadającym elastyczną konstrukcję, która pozwala zapewnić wszystkie wymagania dyfrakcji rentgenowskiej. Głównym elementem tego przyrządu jest precyzyjny... więcej »

Mikroskop sił atomowych MultiMode V

Urządzenie podstawowe

AFM/SPM (mikroskopia sił atomowych/mikroskopia sond skanujących) Rodzaj mikroskopu ze skanującą sondą. Umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni (a także zmian właściwości) ze zdolnością rozdzielczą rzędu wymiarów pojedynczego atomu dzięki wykorzystaniu sił oddziaływań Van Der Waalsa, na... więcej »

Profilometr optyczny Wyko NT9300

Urządzenie podstawowe

Urządzenie służy do obrazowania oraz charakteryzowania powierzchni za pomocą m.in. takich parametrów jak: Ra, Rq, Rp, Rv, Rt, Rz, Rsk. Wyznaczane parametry są zgodne z normami DIN oraz ISO. Podstawą działania profilometru jest zjawisko interferencji światła - obrazowanie prążków interferencyjnych. ... więcej »

Skaningowy Mikroskop Elektronowy TM1000

Urządzenie podstawowe

Kompaktowy mikroskop skaningowy umożliwia wykonywanie obserwacji powierzchni preparatów przewodzących lub nieprzewodzących przy powiększeniach od x30 do x10000. Mikroskop ze względu na swoje kompaktowe rozmiary można łatwo przemieszczać. Podstawowe parametry: - napięcie przyśpieszające wiązki... więcej »

Transmisyjne Mikroskopy Elektronowe: (HRTEM) JEOL JEM 3010, (STEM) JEOL JEM 1200 EX, (TEM) Philips EM 300

Urządzenie podstawowe

Elektronowymi mikroskopami transmisyjnymi opiekuje się Zakład Podstaw Nauki o Materiałach naszego Wydziału, jednak pracownicy Naszego Zakładu wykorzystują je intensywnie w swoich badaniach. ... więcej »

Dyfraktometr rentgenowski PHILIPS PW 1830

Urządzenie podstawowe

Dyfraktometr rentgenowski PHILIPS PW 1830 umożliwia identyfikację faz w materiale oraz pomiar naprężeń szczątkowych. Dyfraktometr wyposażony jest w goniometr X-Pert z niezależnymi ruchami teta - 2 teta i monochromatorem grafitowym na wiązce dyfrakcyjnej. Posiada układ szczelin Sollera i... więcej »

Dynamic testing machine MTS 810

Urządzenie podstawowe

... więcej »

 1  2  3  4 

© Zakład Projektowania Materiałów

home :: aktualności :: badania :: przemysł :: edukacja :: szukaj :: kontakt :: mapa serwisu